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QT-9000 Series
大规模集成电路测试系统(VLSI) QT-9000
QT-8000 Series
数位模拟混合信号IC测试系统(Cable Mount) QT-8100
数位模拟混合信号IC测试系统(Direct Mount)QT-8200
大功率增强型混合信号IC测试系统 QT-8100HP
QT-7000 Series
IC测试系统 QT-7100
集成电路测试系统 QT-7200
QT-6000 Series
分立器件高速测试系统 QT-6000
QT-5000 Series
分立器件测试系统 QT-5000
QT-4000 Series
分立器件测试系统 QT-4000
综合测试平台 TB-14
QT-3000 Series
雪崩测试仪QT-3101B
热阻测试仪 QT-3102
MOSFET RG/CG 测试系统 QT-3107

Test System

QT-9000 Series大规模集成电路测试系统(VLSI) QT-9000

大规模集成电路测试系统(VLSI) QT-9000

应用范围:
支持MCU、数字通信芯片、多媒体设备和存储类等中大规模数字集成芯片测试。

主要特点

• Max 200Mbps 数据率
• 最大支持768(DPU32/200Mbps)或1536(DPU64/50Mbps)通道
• 矢量存储深度32M
• 最小时间测量1ns(50ps分辨率)
• 最小脉冲宽度3.25ns(39ps分辨率)
• 最大支持并行测试1024sites
• 支持数字IC的SCAN测试
• 支持板卡DPU32、DPU64、EPU10
• 内置示波器100kHz/1MHz/10MHz
• 内置AWG & DIG
• 界面友好的Windows系统开发环境
• 编程语言Visual studio C++
• 软件内置PTS插件辅助开发测试程序
• PTS软件可实时监控电源
• 测试头共支持26卡槽
• 移动升降平台,精细位置微调


详细的技术指标

数字板卡DPU
 
板卡 最大数据率 矢量深度 通道数 驱动/比较电压 动态负载及输出阻抗 最小脉冲 数字信号精度
DPU 32 200Mbps 32M 32 -1.5V~6.5V ±25mA/50Ω 3.25ns 0.1%示数/
设值±5mv
DPU 64 50Mbps 16M 64 10ns
时间测量 1.0nS~1.0uS (分辨率:50ps 精度:±0.15ns)
1.0nS~8mS (分辨率:50ps 精度:±1.0ns)
8mS~1S (分辨率:10ps 精度:±10ns)
数据格式 最大支持256种STIL兼容波形格式
PPMU 电压:-2.0V~6.5V 电流:±2uA/±10uA/±100uA/±1mA/±40mA

模拟板卡EPU

板卡 功能类型 电压电流 通道数 AWG Digitizer 最大可扩展通道数 电压/电流精度
EPU 10 大电流V/I 40V/10A 2 200ksps 200ksps 8 0.025%/0.05%+
档位步进值
中电流V/I 40V/1A 8 32

控制板卡THC

DPS CBIT 扩展通信
8通道 /0~20V / 0-1A 128位双向IO、可扩展 4路
*对于所有技术参数公司有权随时修订,不作另行通知。
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