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QT-9000 Series
大规模集成电路测试系统(VLSI) QT-9000
QT-8000 Series
数位模拟混合信号IC测试系统(Cable Mount) QT-8100
数位模拟混合信号IC测试系统(Direct Mount)QT-8200
大功率增强型混合信号IC测试系统 QT-8100HP
QT-7000 Series
IC测试系统 QT-7100
集成电路测试系统 QT-7200
QT-6000 Series
分立器件高速测试系统 QT-6000
QT-5000 Series
分立器件测试系统 QT-5000
QT-4000 Series
分立器件测试系统 QT-4000
综合测试平台 TB-14
QT-3000 Series
雪崩测试仪QT-3101B
热阻测试仪 QT-3102
MOSFET RG/CG 测试系统 QT-3107

Test System

QT-6000 Series分立器件高速测试系统 QT-6000

分立器件高速测试系统 QT-6000

QT-6000测试系统适用于测量中小功率三极管、场效应管、二极管等产品及晶圆,可扩展内置电容测试(DC+CAP)、scanbox等。
R26; 使用电子开关取代传统的慢速机械继电器,使系统速度更快,可靠性更高。
R26; 快速测试pA级漏电流。
R26; 可定制LCR/大电流、雪崩、热阻等功能。
R26; 内嵌示波器功能,具备校准和自检功能,随时记录测试过程波形,便于测试参数调整和分析。
R26; 具有温度及功率检测保护功能。
R26; 采用四象限电路,可以很好的保护被测器件。
R26; 采用悬浮电源和全对称结构。
R26; 高速测试满足UPH56K以上的分选机。
R26; 高速FT&QA复测极大的预防不良品逃逸。
R26; 适合并行测试,实现多通道多Die测试。


主要技术指标
 
测量精度    电流:0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5nA
   电压:0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5mV
   电容:0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 10fF
量程选择    电流:30A/3A / 300mA / 30mA / 3mA / 300uA / 30uA/ 3uA/ 300nA / 30nA/ 3nA
   电压:1200V/600V /300V /30V /3V /300mV/30mV
   电容:300pF / 30pF / 3pF  (BIAS 电压范围 0~80V) 可扩展到3000pf
分辨率    16 bit  ADC/DAC
波形记录    波形捕获100K/1M/10M 可选 ,采样深度1024KB

QT-6166 一次可乒乓测试8颗三极管,同時测试4颗耗时约40ms左右。

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