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大规模集成电路测试系统(VLSI) QT-9000
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Test System

QT-5000 Series分立器件测试系统 QT-5000

分立器件测试系统 QT-5000

QT-5000测试机是建立在QT-6000架构上的一款小体积的分立器件高速测试机
•外部可连接HANDLER ,适合中小功率分立器件的高速并行测试
•可测器件:二极管、三极管、MOS-FET、J-FET、 三端稳压管
•采取四象限电压电流,对器件均起到很好的保护作用,避免测坏器件
•具备强大的示波器功能,节省购买示波器费用
•有3+3通道,支持3A600V的测试范围,可测试电容参数

·QT-5000测试系统通过一台工控PC机完成对系统各部分信号的控制和数据快速处理。
 
·数据传输上采用总线结构,计算机通过PCI总线接口卡实现对各模块的控制和数据交换。
 
·系统的测试控制部分主要功能模块包括   QVI板、THI板、MUX板、TestHead、PCI接口卡等部分。

优势全对称结构

采用全对称结构,並且用电子断电器取代传统的慢速机械继电器,大大减少了继电器的数量和动作的次数使系统速度更快,可靠性更高。

优势电容测试指标参数

C测量范围
 [pF]
C测量精度
[解析度]  
DCM测量时间
[ms]
0.01-3.0pF 0.5% +10fF 5
3.0-30pF 0.5% +20fF 3.5
30.0-300pF 0.5% +50fF 3.0
300-3000pF 0.5% +50fF 3.0
BIAS电压范围0-80V,精度和解析度与DC参数相同

优势 — 电容测试精度

优势 — 占地面积 0.17㎡

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